2023-328
X射線晶體定向儀是一種典型的實驗儀器，用于研究晶體的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。它可以為科學(xué)家和研究人員提供精確的信息，并且可以用于識別和分析各種物種。X射線晶體定向儀是通過將X射線通過晶體來研究晶體的結(jié)構(gòu)。X射線是高能量的電磁輻射，當(dāng)這些射線通過物質(zhì)時，它們會被物質(zhì)吸收或散射。晶體是一種高度有序的結(jié)構(gòu)，每個晶體都由一組原子或分子按確定的規(guī)律排列成整齊的、有序的、周期性的結(jié)構(gòu)。X射線晶體定向儀的原理是通過將X射線通過樣品(通常是晶體)并將它們收集到檢測器中來測定樣品內(nèi)的原子排列。X射線晶體定...
查看更多2023-323
近年來，隨著汽車技術(shù)的不斷升級，輪轂作為汽車的重要組成部分，也在不斷迭代更新。為了保證汽車行駛過程中的安全性和穩(wěn)定性，輪轂的質(zhì)量也愈加受到重視。其中，輪轂X射線檢測技術(shù)成為一個非常重要的方法。一般來說，輪轂X射線檢測主要是通過放射性元素降低級聯(lián)到輪轂上的X射線，使輪轂表面的缺陷顯現(xiàn)出來，檢測員可以觀察這些缺陷并及時處理。通過這種方法，內(nèi)部缺陷的檢測率被大大提高。說到X射線檢測，大多數(shù)人的第一反應(yīng)就是安全問題。確實，X射線等電離輻射在高劑量情況下有明顯的危害性。但是，在輪轂X射...
查看更多2023-320
X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，精確的進行物相分析，定性分析，定量分析。廣泛應(yīng)用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教學(xué)，材料生產(chǎn)等領(lǐng)域。x射線衍射儀是一種用于分析化合物和晶體結(jié)構(gòu)的分析工具，它能夠通過測量材料對x射線的散射來確定其晶體結(jié)構(gòu)和成分。x射線衍射儀的精度和可靠性受多種因素的影響，包括以下幾個方面：1.x射線源的類型和質(zhì)量：x射線源通?？梢允堑趵K式x射線發(fā)射管或旋轉(zhuǎn)陰極x射線發(fā)生器。各種x射線源有不同的特點，包括功率、能量和輻射模式等...
查看更多2023-320
無損檢測設(shè)備是一種各行各業(yè)都需要使用的非破壞性檢測技術(shù)。它能夠?qū)ξ矬w進行檢測，不影響它們的完整性和功能，也不需要對它們進行開放或破壞性測試。這種技術(shù)已獲得廣泛應(yīng)用，包括航空、航天、能源、建筑和制造業(yè)等領(lǐng)域。本文將介紹什么是無損檢測設(shè)備，不同種類的無損檢測設(shè)備以及廣泛使用這種技術(shù)的領(lǐng)域。無損檢測設(shè)備是一種采用光學(xué)、聲學(xué)、電磁學(xué)等原理，利用信號的反射、傳播、吸收等來檢測材料內(nèi)部外部的缺陷和不均勻性。根據(jù)檢測方法的不同，無損檢測設(shè)備可以分為許多不同種類。例如，超聲波檢測質(zhì)量損失可以...
查看更多2023-317
隨著科技的不斷發(fā)展，電子元器件已經(jīng)成為了現(xiàn)代電子技術(shù)的基礎(chǔ)。為了確保電子設(shè)備的可靠性和穩(wěn)定性，需要對電子元器件進行各種檢測。本文將介紹電子元器件檢測的方法和技術(shù)。一、外觀檢查外觀檢查是電子元器件檢測的一步。通過觀察元器件的外觀，可以初步判斷其品質(zhì)和與規(guī)格是否符合。外觀檢查包括對象的封裝形式、腳位形式和排列方式等方面。例如檢查電容的封裝是否完整、引腳是否損壞，晶體管外殼表面是否有損傷等等。二、電參數(shù)測試電參數(shù)測試是電子元器件檢測的重要環(huán)節(jié)。電子元器件的性能主要表現(xiàn)在其電參數(shù)上，...
查看更多2023-225
X射線探傷機無損檢測在檢測中不會對檢測對象造成損傷，因此在工業(yè)及工程中的應(yīng)用非常多。X射線探傷機是無損檢測的常用儀器，了解X射線探傷機的相關(guān)內(nèi)容可以更好地進行無損檢測。工作原理是利用X射線穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中有衰減的特性來發(fā)現(xiàn)其中缺陷。X射線具有穿透性，它能穿透可見光不能穿透的物質(zhì)。X射線透過樣品時，會產(chǎn)生吸收現(xiàn)象。物質(zhì)的致密度、厚度的不同會使X射線影像成像出現(xiàn)差異。當(dāng)金屬鑄件在壓鑄過程中，零件成型質(zhì)量的優(yōu)劣往往會因工藝參數(shù)、車床狀況的不同而有很大差異。相應(yīng)地成型后零件的厚度、...
查看更多2023-220
X射線設(shè)備使用高壓加速電子來釋放X射線，這些X射線會穿透樣品并留下圖像。技術(shù)人員通過圖像的亮度觀察樣品的相關(guān)細節(jié)。它可以檢測到一系列異常，例如PCB電路斷開，IC缺陷，焊球開裂。無損探傷是指運用某種檢測工具或介質(zhì)，在不破壞工件或者原材料的情況下，對被檢測工件的表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu)進行檢查的技術(shù)手段；目前常用的無損探傷方法有：X光射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、熒光探傷、γ射線探傷、著色探傷等；X射線的發(fā)現(xiàn)及物理屬性：X射線是由著名的物理學(xué)家倫琴教授在1895年發(fā)現(xiàn)的一種波長很短的電...
查看更多2023-118
探傷是指探測金屬材料或部件內(nèi)部的裂紋或缺陷。常用的探傷方法有:X光射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷、渦流探傷、γ射線探傷等方法。物理探傷就是不產(chǎn)生化學(xué)變化的情況下進行無損探傷。五大常規(guī)方法是指射線探傷法、聲波探傷法、磁粉探傷法、渦探傷法和滲透探傷法。1、射線探傷方法射線探傷是利用射線的穿透性和直線性來探傷的方法。這些射線雖然不會像可見光那樣憑肉眼就能直接察知，但它可使照相底片感光，也可用殊的接收器來接收。常用于探傷的射線有x光和同位素發(fā)出的γ射線，分別稱為x光探傷和γ...
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